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GDDR5探針測試座 BGA178測試架 夾具 工裝 2.8GHz高頻測試詳細(xì)信息/Detailed Information

GDDR5探針測試座 BGA178測試架 夾具 工裝 2.8GHz高頻測試

①適用于常規(guī)的BGA178-0.8封裝的GDDR5顆粒芯片;
②雙頭高頻測試探針,可過2.8GHz高頻型號;
③帶PCB轉(zhuǎn)接板,采購回去在PCB板子上面植球即可像SMT貼片一樣把測試座直接貼在PCB上面適用;
④適用壽命100000次;
⑤適用環(huán)境溫濕度為-55~155℃≤85%hr;
訂購熱線:13631538587
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測試座(夾具)特點:
①適用于常規(guī)的BGA178-0.8封裝的GDDR5顆粒芯片;
②雙頭高頻測試探針,可過2.8GHz高頻型號;
③帶PCB轉(zhuǎn)接板,采購回去在PCB板子上面植球即可像SMT貼片一樣把測試座直接貼在PCB上面適用;
④測試座設(shè)計成翻蓋結(jié)構(gòu),使用測試簡單方便,壓合平穩(wěn)接觸穩(wěn)定。
⑤測試座外殼采用陽極硬氧鋁合金材質(zhì),表層絕緣耐磨、抗氧化強使用年限長。
⑥測試座使用進(jìn)口雙頭探針接觸方式,相比同類測試產(chǎn)品使IC與PCB之間數(shù)據(jù)傳輸距離更短,從而使測試 更穩(wěn)定,頻率更高。
⑦測試(老化)PCB與Socket采用定位銷定位及防呆,采用螺絲連接、固定,拆卸、維護(hù)簡單方便。

測試座(夾具)特性
①結(jié)構(gòu):翻蓋式;
②外殼材質(zhì):鋁合金;
③接觸方式及材質(zhì):雙頭探針,鈹銅鍍金;
④核心部件材質(zhì):peek陶瓷;
⑤額定電流:1A;
⑥操作壓力:30g、PIN越多壓力越大;
⑦接觸電阻:<100mΩ;
⑧環(huán)境溫度:-55℃~175℃;
⑨機械壽命:100000;


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