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標(biāo)準(zhǔn)IC測(cè)試座
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U盤Flash測(cè)試座 / Product Center

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低成本探針老化座夾具治具BGA484封裝芯片
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BGA152/132轉(zhuǎn)DIP48下壓彈片高溫老化座夾具讀寫座socket
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定制 LGA30封裝 射頻芯片 測(cè)試座 測(cè)試夾具 10G高頻socket
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BGA64-0.4特殊封裝測(cè)試座
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BGA63-0.8翻蓋探針轉(zhuǎn)48測(cè)試座BGA63-0.8燒錄座U盤轉(zhuǎn)DIP48
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BGA137探針座BGA137翻蓋探針轉(zhuǎn)48測(cè)試座socket 翻蓋式讀寫燒錄座
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定制BGA一拖四翻蓋探針測(cè)試治具
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BGA100翻蓋探針轉(zhuǎn)dip48芯片測(cè)試座
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BGA272翻蓋探針安國主控U盤測(cè)試夾具
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eMMC153/169 U盤探針測(cè)試夾具
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大小SD卡金點(diǎn)轉(zhuǎn)DIP48翻蓋探針測(cè)試座
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BGA96轉(zhuǎn)DIP96翻蓋彈片芯片測(cè)試座燒錄座
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TF24翻蓋探針轉(zhuǎn)DIP48芯片測(cè)試座
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TF19雙頭針翻蓋探針轉(zhuǎn)48pin芯片測(cè)試座
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BGA132/152轉(zhuǎn)DIP48G下壓彈片F(xiàn)LASH芯片測(cè)試座
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測(cè)試座就是一種具有測(cè)試功能的插座,是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。下面 我們主要來講解一下它的應(yīng)用。 ic測(cè)試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件... 【更多詳情】

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