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鴻怡測(cè)試座采用進(jìn)口玻銅材料
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老化測(cè)試座 / Product Center

DFN8pin-0.65mm-5×5mm彈片式老化測(cè)試座,老煉測(cè)試夾具(新款-標(biāo)準(zhǔn)品)
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TSSOP24pin-0.65mm芯片老化測(cè)試座
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88PIN-0.8mm-30x20mm合金翻蓋芯片老化座--老化板
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USON8/DFN8pin-0.5mm-2X3mm軍工級(jí)耐高低溫芯片老化測(cè)試座
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DFN8pin-0.65mm-3.3x3.3mm翻蓋彈片老化測(cè)試座
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功率器件TO252-3L(252-30單工位,4PIN)翻蓋老化測(cè)試座
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QFN48pin-0.5mm-7x7mm芯片老化測(cè)試座
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JFP8pin-7.5mm-1.27mm元器件老化測(cè)試座
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DFN8pin-0.5mm-2X2mm芯片老化測(cè)試座
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SOP14(20)pin-1.27mm芯片下壓老化測(cè)試座
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QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化測(cè)試座(帶頂針)
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SOD123-2pin-2.7mm二極管老化測(cè)試座
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QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻蓋老化測(cè)試座
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DFN6pin-0.65mm-2x2mm翻蓋彈片老化測(cè)試座
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QFP100pin-0.65mm-20×20mm芯片翻蓋老化測(cè)試座
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QFN20pin-0.65mm芯片老化測(cè)試座
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SOT23-3pin-1.4mm芯片老化測(cè)試座
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JFP16pin-5mm-1.27mm芯片老化座
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QFP64pin-0.5mm-10×10mm下壓彈片老化測(cè)試座
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QFP32pin-0.8mm-7×7mm翻蓋彈片老化座
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測(cè)試座就是一種具有測(cè)試功能的插座,是對(duì)在線(xiàn)元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。下面 我們主要來(lái)講解一下它的應(yīng)用。 ic測(cè)試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件... 【更多詳情】

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