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鴻怡測(cè)試座,終身技術(shù)支持保修
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晶振測(cè)試座 / Product Center

HMILU-3225-8Pin-0.825mm塑膠翻蓋晶振老化測(cè)試座
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HMILU定制晶振2016-4L塑膠翻蓋測(cè)試座
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5032-10pin塑膠翻蓋晶振測(cè)試座socket
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QFN32pin-0.5mm-5×5mm翻蓋式晶振測(cè)試座
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晶振4pin-2.24mm-3.2x2.5mm一拖十六翻蓋測(cè)試座
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定制7050-6pin-2.54mm塑膠翻蓋晶振測(cè)試座
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定制晶振3215-8pin-0.85mm-3.2x1.5mm下壓合金頂窗式測(cè)試座
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定制晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻蓋測(cè)試座
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定制BGA24pin-1.0mm-6x8mm塑膠翻蓋晶振測(cè)試座
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7050-4晶振翻蓋探針老化座測(cè)試座燒錄夾具治具socket焊接式
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定制光耦4pin-1.27_2.5×4.6晶振翻蓋測(cè)試座
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新開模晶振3225探針測(cè)試座 貼片晶振老化座3225晶振老化座
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5032-4pin晶振探針老化座 5.0×3.2mm crystal oscillator測(cè)試座
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SMT貼片晶振7050-4pin翻蓋探針測(cè)試座
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3215-2pin貼片晶振測(cè)試座 翻蓋探針老化座 3.2×1.5mm 測(cè)試座工廠
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3215-2pin貼片晶振測(cè)試座
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5032-2pin貼片晶振測(cè)試座
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2520-4pin貼片晶振測(cè)試座
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QFN8 DFN8 WSON8編程插座Pogo引腳探針適配器引腳間距0.5mm IC主體尺寸2x2mm翻蓋式測(cè)試插座編程器
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QFN8-0.65(3*3)翻蓋探針芯片測(cè)試座
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測(cè)試座就是一種具有測(cè)試功能的插座,是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。下面 我們主要來講解一下它的應(yīng)用。 ic測(cè)試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件... 【更多詳情】

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