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LGA老化座 / Product Center

LGA79pin-1.1mm合金翻蓋式彈針芯片測(cè)試座socket
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LGA14pin一拖九工位旋鈕雙扣式探針芯片測(cè)試座socket
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LGA10pin-0.7mm-3.6×3.6×1.45mm一拖40工位芯片測(cè)試座socket
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LGA25pin-1.27mm-6.25×6.25×1.85mm一拖雙工位芯片測(cè)試座socket
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LGA36pin-0.6mm-6×6mm塑膠翻蓋式模塊老化測(cè)試座socket
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LGA9pin-0.5mm-15x11.5mm塑膠下壓模塊測(cè)試座socket
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傳感器芯片LGA10pin-1.9mm-VSPGH(6X6.6mm)雙鏡方形測(cè)試座
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LGA220pin-1.0mm-16.8*20mm芯片測(cè)試治具socket
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LGA288pin-1.3mm-30x40mm合金旋鈕探針芯片測(cè)試座socket
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LGA28pin-0.8mm-9X9mm合金翻蓋探針芯片測(cè)試座socket
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LGA12pin-0.6mm-3.6×2.2mm合金翻蓋探針芯片測(cè)試座socket
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定制LGA79pin-1.1mm-16×12.2mm合金翻蓋彈針芯片測(cè)試座socket
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定制LGA122pin-1.5mm-30.5×28mm×2.8mm合金旋鈕探針射頻模塊測(cè)試座,模塊測(cè)試夾具
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定制LGA24pin-0.45mm-4x6mm下壓合金頂窗式測(cè)試座
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定制LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻蓋探針老化測(cè)試座夾具
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定制LGA16pin-1.12mm-4.12x4.12mm合金翻蓋探針芯片測(cè)試座
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LGA30pin-1.0mm-10×10mm塑膠翻蓋彈片射頻器件測(cè)試座
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定制LGA55pin-2.0mm-24x12mm合金翻蓋探針芯片測(cè)試座
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定制LGA12pin-0.5mm-2X2mm一拖一合金旋鈕翻蓋式芯片ATE自動(dòng)化測(cè)試座
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HMILU-LGA14pin-0.5mm-2.5x3mm塑膠翻蓋芯片測(cè)試座
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測(cè)試座就是一種具有測(cè)試功能的插座,是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。下面 我們主要來(lái)講解一下它的應(yīng)用。 ic測(cè)試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件... 【更多詳情】

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