SSD固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試方案

• SMI2246EN測(cè)試方案
• SMI2256K測(cè)試方案
• SSD測(cè)試夾具
• TSOP48 IC測(cè)試座
• BGA152 IC測(cè)試座

U盤(pán)Flash測(cè)試座

• BGA測(cè)試座
• TSOP測(cè)試座
• LGA測(cè)試座
• TF卡測(cè)試座
• SD卡測(cè)試座
• EMMC/EMCP黃點(diǎn)測(cè)試座
• BGA24機(jī)頂盒測(cè)試座

晶振測(cè)試座

• 晶振老化座

DDR測(cè)試夾具

• DDR內(nèi)存顆粒解決方案

EMMC/EMCP數(shù)據(jù)恢復(fù)

• 安卓手機(jī)字庫(kù)測(cè)試座
• 手機(jī)數(shù)據(jù)恢復(fù)測(cè)試座
• eMMC/eMCP Flash測(cè)試座
• eMMC/eMCP功能分析測(cè)試
• UFS芯片測(cè)試座

精密定制IC測(cè)試座

• BGA ic測(cè)試座
• QFN ic測(cè)試座
• QFP ic測(cè)試座
• 模塊測(cè)試座
• WLCSP芯片測(cè)試座

老化測(cè)試座

• BGA老化座
• LGA老化座
• eMMC/eMCP老化座
• TSOP老化座
• SOP老化座
• QFN老化座
• QFP老化座
• SOT老化座
• 其它老化座
• TO老化座

燒錄編程座

• DFN/QFN8測(cè)試座
• BGA測(cè)試座
• LGA測(cè)試座
• TSOP燒錄座
• SOP燒錄座
• QFN燒錄座
• QFP燒錄座
• SOT編程座
• 其它編程座

端子板（Adapter)

• TSOP端子板
• SOP端子板
• QFP老化板
• QFN老化板

IC老化板解決方案

IC測(cè)試治具

• 各類主板IC測(cè)試治具
• SENSOR測(cè)試治具
• IC信號(hào)分板/測(cè)試夾具
• 手機(jī)類測(cè)試治具
• 平板電腦類測(cè)試治具
• 蘋(píng)果手機(jī)夾具/測(cè)試座
• 其它IC測(cè)試治具

FPC-connector夾子

• 觸摸屏
• 顯示屏
• 攝像模組
• FPC功能模組
• 針模連接器

芯片/老化開(kāi)短路解決方案

BGA返修

• BGA植球
• BGA植球工具
• 代理各種BGA返修用品

ATE測(cè)試座（自動(dòng)機(jī)臺(tái)適用）

測(cè)試探針

大電流彈片微針模組

電阻容老化測(cè)試座

3C接口轉(zhuǎn)接頭

• USB 測(cè)試轉(zhuǎn)接頭

蝶形/金屬管殼/陶瓷封裝

IGBT和新能源封裝測(cè)試座

半導(dǎo)體探針卡/垂直探針卡