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彈片測(cè)試座和探針測(cè)試座的區(qū)別?

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瀏覽:- 發(fā)布日期:2017-06-08 10:02:11【

一、什么是探針?探針有那些常用種類?

探針是電測(cè)試的接觸媒介,為高端精密型電子五金元器件。 

1.ICT探針?。↖CT series Probes)

2.界面探針(Interface Probes)

3.微型探針(MicroSeries Probes)

4.開關(guān)探針(Switch Probes)

5.高頻探針(Coaxial Probes)

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)

7.高電流探針(High Current Probes)

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)

10.汽車線束測(cè)試測(cè)試探針

二、IC芯片老化、測(cè)試、燒錄主要用到種類,探針的主要參數(shù)。

5.高頻探針(Coaxial Probes)

用于測(cè)試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

7.高電流探針(High Current Probes)

探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.

8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)

直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

探針的主要參數(shù):

引腳數(shù)量

間距(mm)

使用溫度

最高IC頻率

三、探針圖片及解剖:

 1、顏色:黃色

 2、組成:針頭+針管+彈簧


IC測(cè)試座

探針在測(cè)試座里的使用狀況:有四個(gè)接觸點(diǎn),摩擦點(diǎn)多,高低溫下容易變形,鍍金范圍廣。核心技術(shù)掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長(zhǎng),壽命一般。

探針測(cè)試座

五、什么是彈片?

彈片是電測(cè)試的接觸媒介,為精密型電子五金元器件,比探針工藝簡(jiǎn)單,使用性能比探針好。

彈片在測(cè)試?yán)锏氖褂脿顩r:有二個(gè)接觸點(diǎn),沒有摩擦點(diǎn),高低溫下不會(huì)變形,鍍金范圍小。核心技術(shù)掌握在我們公司手中,彈性好,不會(huì)出現(xiàn)偏移,沒有磨損,壽命長(zhǎng)。

彈片測(cè)試座


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