鴻怡電子推薦

• QFN56-0.5翻蓋彈片IC老化座

  

        產(chǎn)品用途:編程座、測試座，對QFN56的IC芯片進(jìn)行燒寫、測試
  適用封裝:QFN56引腳間距0...
  

• eMMC153/169下壓彈片轉(zhuǎn)USB接口芯片測試座

  

        1. 采用彈片下壓轉(zhuǎn)SD接口結(jié)構(gòu)。
  2. 采用德國進(jìn)口絕緣工程材料.
  3. 兼容153PIN和1...
  

• HY030-UU-5.7L 雙頭探針

  

        產(chǎn)品型號：HY030-UU-5.7L
  所屬分類：雙頭探針
  產(chǎn)品頭型：探針外徑為0.30mm，總長...
  

• HMILU-SOP8pin-1.27mm-4.9x6mm合金翻蓋芯片測試座socket—SOP芯片測試夾具

  

        SOP8pin芯片測試座規(guī)格參數(shù)：
  生產(chǎn)品牌廠家：鴻怡電子—HMILU
  芯片封裝形式：SOP...
  

• WLCSP21pin-0.5mm-3.022×3.290mm塑膠翻蓋探針芯片測試座

  

        WLCSP21pin芯片測試座規(guī)格參數(shù)信息：
  品牌：HMILU
  芯片封裝形式：WLCSP
  芯片...
  

相關(guān)常見問題

• ANDK鴻怡電子QFN系列彈片老化測試座夾具的驗收及焊接使用注意事項
• IC測試座的清潔和保養(yǎng)
• ICsocket關(guān)于PCB板的設(shè)計
• 產(chǎn)品結(jié)構(gòu)件材料的性能區(qū)別
• 探針燒毀的原因分析
• 有錫球/無錫球測試的區(qū)別
• 測試探針的結(jié)構(gòu)和使用壽命
• ICsocket相關(guān)測試座產(chǎn)品報價原則？
• 定制芯片測試座需要提供那些資料?
• 為您的IC，找一款好的IC測試治具

最新資訊文章