IC如何在電路板中高效檢測性能?
極快速有效的辦法就是定制測試治具、測試架、測試夾具。
如下方所介紹的QFN88-0.4測試治具
如何測試一顆IC的性能最簡單最方便的方法就是套用使用該IC的電路板來做成測試夾具,這樣就可以高效的測試IC的性能。
有很多人回收物料之后留下成千上萬個IC拆機芯片,但是卻沒辦法去確認IC的好壞,其實簡單點的就是找到IC的載體(主板),把主板提供給專業(yè)生產測試座的廠家來做成測試夾具,通過測試治具來作為一個連接媒介,無需重復焊接,損傷芯片就可以達到檢測芯片功能好壞的目的。
以上治具更是廣泛應用于DDR、EMMC芯片的檢測中。
下面給大家分享一個案例:
客戶是需要測試他應用系統(tǒng)上面的QFN88-0.4芯片
一、客戶IC的規(guī)格尺寸為:
QFN 封裝 88PIN;尺寸 10*10mm;間距0.4mm;溫度常溫;頻率 800MHZ;電流500mA以內;
二、具體要求:
1:中心大焊盤需要加接地針;
2:刷卡區(qū)標識刷卡區(qū)文字以及方框,保證刷卡正常;
3:使用USB接口為電源接口、LED 開關作為開機鍵,添加500mA量程電流表;
4:紅外接收器改到頂層且需要鏤空裸露,確保正常收發(fā)信號;
成品展示:
使用效果展示